硅酸根测定仪校准项目及指标详细说明

硅酸根测定仪校准项目

(1)外观检查；(2)绝缘电阻(首检)；(3)分析仪示值误差；(4)分析仪重复性；(5)分析仪零点漂移；(6)分析仪量程漂移

硅酸根测定仪校准的项目指标

(1)示值误差校准(用引用误差)

在SiO2含量为0~50ug/mL的范围内，示值误差不大于其量程的2.0%在SiO2含量为0~200 u g / mL的范围内，示值误差不大于其量程的2.5%。

(2)分析仪重复性的校准(用多次测量的标准偏差表示)分析仪重复性测量的标准偏差不大于1.5%。

(3)分析仪零点漂移的校准：在15min内应不超过1.0ug / mL。

(4)分析仪量程漂移的校准：在15min内应不超过2.0ug / mL。