得利特(北京)科技有限公司
      客服热线:010-80764046

X荧光定硫仪对测样有哪些要求?

发表时间:2021-03-24 13:08作者:得利特

X荧光定硫仪对测样的要求

(1) 待测样应在基体、碳氢比(C/H)与标定样基本一致。若待测样与硫标样的基体、碳氢比(C/H)不一致,会造成误差,本仪器具有自动碳氢比C/H修正,但如果两者之间相差较大,建议使用与待测样品接近的硫标样标定仪器工作曲线;

(2)待测样品应是清晰均匀的,如果样品有沉淀物存在,将给测量结果带来较大误差。为了准确测量,可将样品中沉淀物滤掉后再测量;

(3)对于硫含量浓度高于5%(m/m)的待测样,可用白油将其稀释得到仪器硫含量分析范围;

(4)对于粘稠性待测样,应用热水加热后,待流动性较好时再倒入样品杯;

(5) 倒入样品杯中待测样深度在3-4mm之间,保证待测样液体与样品杯底聚脂膜之间没有气泡;

(6)高浓度的芳香族待测样可能会溶解聚脂膜,因而待测样倒入样品杯后,应快速测定。待测样取样方法参照国家标准(GB/T4756)进行。

A2140 X荧光硫元素分析仪.jpg

地址:北京市昌平区新元科技园E座206
邮箱:delitekj@126.com
电话:010-80764046;010-80764056