X荧光测硫仪测定硫含量的三点必要说明

X荧光测硫仪测定硫含量的三点必要说明

1、 X荧光强度比率相对比较法的科学利用

为了克服X光管疲劳，仪器电气参数漂移，环境温湿度，灰尘变化对分析结果的影响，本仪器采用了X荧光强度比率的相对比较分析法，为此在样品台板上装了一个特制参考样，含量分析时，本来应像仪器标定时一样，测一下待测样，接着测一次参考样，以求得对应元素化合物X荧光比率强度，再求得含量结果。现在在本仪器中科学地利用X荧光强度比率，连续测参考样几次，取其平均值，在半小时内应用。含量分析时，就直接测待测样，这样既保证高的测量准确度，又缩短了待测样分析时间，还简化了分析操作步聚。如果一小时内，连续不断分析样品，一小时后，就要对参考样进行测量，显示屏下方有“测量参考样”提示字样。这时移动台板，使参考样位于测量位置，显示屏左下角有参考样显示，等待5分钟即可完成采样。

2、样品台板位置

参考样和待测样品被置于同一载样台板上。当取样孔可以取样时，参考样位于测量位置，此时显示屏右下角有：“参考样位于测量位置”字样，当挡板盖住取样孔时，待测样位于测量位置，此时显示屏左下角有：“待测样位于测量位置”字样。

注意1：样品台板只能处于测“参考样”位置或测“待测样”位置，不能处于其它任何中间位置，处于其它位置仪器将报警，也不能正常工作。

注意2：仪器在不测含量时，载样处于测“参考样”位置。仪器自动对参考样采样，且采用最当前的数据平均值，供仪器测量含量时使用，这样仪器一直处于等待状态，放入待测样就可以分析。

3、不能启动含量测量的二种情况：

当仪器在下列二种情况下，点击【启动】键不能进行含量测量。

(1)仪器处于预热阶段；

(2)仪器处于“测量参考样计数值”时；